TSE-322F一鍵閃測儀 大視野拼接快速影像測量儀 一鍵閃測儀 大視野拼接快速影像測量儀
TSE-300系列拼接式閃測儀采用雙遠心光學系統,結合高精度圖像拼接測量算法。在CNC模式下,任意放置工件后,只需按一下啟動鍵,即可快速完成尺寸測量和評價,能快速測量產品的平面尺寸和形位公差。儀器量測測量效率是傳統影像儀器的10-20倍。
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2025-11-25 - 02
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